Novas arquiteturas fotônicas para redução da dependência do fator de qualidade e fator de extinção à erros de nanofabricação em cavidades ópticas
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Universidade Federal de São Carlos
UFSCar
Campus São Carlos
Engenharia Elétrica - EE
UFSCar
Campus São Carlos
Engenharia Elétrica - EE
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In this work, experimental data from a device fabricated in a Foundry was used to demonstrate a reduction in the dependence of the quality factor and the minimum power transmitted to nanofabrication errors. To prove this, we compared the performance metrics of a cavity with a radius of 5μm directly coupled to a waveguide with the same cavity coupled inside a larger cavity, with a radius of 20μm, which in turn was coupled to a waveguide. The obtained results showed that the quality factor and the extinction factor of a cavity increase significantly when coupled to another ring compared to coupling this cavity directly to a waveguide. In addition, this arrangement demonstrated robustness for these parameters (quality factor and minimum power transmission), when the devices were subject to variations in the gap or in the roughness of the waveguides that form the cavities.
Não recebi financiamento
Neste trabalho de conclusão de curso foi utilizado dados experimentais de um dispositivo fabricado em uma Foundry para demonstrar redução da dependência do valor do fator de qualidade e da potência mínima transmitida à erros de nanofabricação. Para provar isso, se comparou as métricas de desempenho de uma cavidade de raio 5μm acoplada diretamente em um guia de onda com uma mesma cavidade acoplada dentro de uma cavidade maior, com raio de 20μm, que por sua vez foi acoplada em um guia de onda. Os resultados mostraram que o fator de qualidade e o fator de extinção de uma cavidade aumentam significativamente quando acoplada em outro anel comparado com o acoplamento dessa cavidade diretamente em um guia de onda. Além disso, esse arranjo demonstrou robustez para esses parâmetros, quando submetidos a variações no gap ou na rugosidade dos guias que formam as cavidades.
Não recebi financiamento
Neste trabalho de conclusão de curso foi utilizado dados experimentais de um dispositivo fabricado em uma Foundry para demonstrar redução da dependência do valor do fator de qualidade e da potência mínima transmitida à erros de nanofabricação. Para provar isso, se comparou as métricas de desempenho de uma cavidade de raio 5μm acoplada diretamente em um guia de onda com uma mesma cavidade acoplada dentro de uma cavidade maior, com raio de 20μm, que por sua vez foi acoplada em um guia de onda. Os resultados mostraram que o fator de qualidade e o fator de extinção de uma cavidade aumentam significativamente quando acoplada em outro anel comparado com o acoplamento dessa cavidade diretamente em um guia de onda. Além disso, esse arranjo demonstrou robustez para esses parâmetros, quando submetidos a variações no gap ou na rugosidade dos guias que formam as cavidades.
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